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　　日立剖析仪器发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪X-Strata920

　　：8036）旗下一家从事剖析和丈量仪器的制作与销售事务的全资子公司。今天，日立剖析仪器拓宽了XRF镀层测厚仪X-Strata920的功用，增加了新式高分辨率探测器和新式样品台装备。

　　可保证镀层契合规范要求，并将镀层过量或过少镀层废料形成的糟蹋减至最少。跟着

　　功用的扩展，用户都可以经过该仪器进行更多作业。这一款新式X-Strata意味着可挑选高分辨率硅漂移探测器（

　　）或正比计数器定制仪器，以优化其功能。此外，它现在具有四个腔室和基座装备，可处理各种形状和尺度的样品，包含汽车行业中的杂乱几许形状。

　　关于杂乱的镀层结构，SDD可以给咱们供给优于正比计数器的优势，由于它更易剖析具有相似

　　特征的元素，例如镍和铜。这扩展了可以适用于剖析的元素规模，包含磷—关于化学镀镍剖析最重要，并能更精确地丈量较薄镀层，例如契合

　　的纳米规模的金。日立剖析仪器产品事务开展司理Matt KREINER表明：

　　以及日立剖析仪器产品系列的其他XRF仪器因其未来远景、牢靠性和易用性而出名。

　　的参加以及多种装备挑选能进步咱们客户的剖析才能和灵活性，以丈量很多零件的杂乱镀层。咱们保留了高度直观的SmartLink软件，因而任何操作员（不管经历水平怎么）都能快速学会运用仪器并取得精确牢靠的效果。咱们的镀层产品，包含高档FT150微焦斑镀层测厚仪、手持式XRF光谱仪以及可进行快速便携式剖析的CMI系列，40多年来在镀层丈量范畴一向深受信任，咱们很快乐可供给这些改善效果。”

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