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日立剖析仪器发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪X-Strata920
:8036)旗下一家从事剖析和丈量仪器的制作与销售事务的全资子公司。今天,日立剖析仪器拓宽了XRF镀层测厚仪X-Strata920的功用,增加了新式高分辨率探测器和新式样品台装备。
可保证镀层契合规范要求,并将镀层过量或过少镀层废料形成的糟蹋减至最少。跟着
功用的扩展,用户都可以经过该仪器进行更多作业。这一款新式X-Strata意味着可挑选高分辨率硅漂移探测器(
)或正比计数器定制仪器,以优化其功能。此外,它现在具有四个腔室和基座装备,可处理各种形状和尺度的样品,包含汽车行业中的杂乱几许形状。
关于杂乱的镀层结构,SDD可以给咱们供给优于正比计数器的优势,由于它更易剖析具有相似
特征的元素,例如镍和铜。这扩展了可以适用于剖析的元素规模,包含磷—关于化学镀镍剖析最重要,并能更精确地丈量较薄镀层,例如契合
的纳米规模的金。日立剖析仪器产品事务开展司理Matt KREINER表明:
以及日立剖析仪器产品系列的其他XRF仪器因其未来远景、牢靠性和易用性而出名。
的参加以及多种装备挑选能进步咱们客户的剖析才能和灵活性,以丈量很多零件的杂乱镀层。咱们保留了高度直观的SmartLink软件,因而任何操作员(不管经历水平怎么)都能快速学会运用仪器并取得精确牢靠的效果。咱们的镀层产品,包含高档FT150微焦斑镀层测厚仪、手持式XRF光谱仪以及可进行快速便携式剖析的CMI系列,40多年来在镀层丈量范畴一向深受信任,咱们很快乐可供给这些改善效果。”
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